Rentgenová florescenční analýza

Rentgenová fluorescenční analýza (“rentgenfluorescence”, RFA, XRFA) byla v podstatě právě popsána v kapitole o elektronové mikroanalýze. Přístroj pro rentgenfluorescenci si můžeme představit jako elektronový mikroanalyzátor bez elektronového mikroskopu, tedy bez možnosti zobrazovat povrch vzorku či provádět mapping a liniový scan. Jinak je princip zcela obdobný: elektronovým paprskem (nebo zářením radioizotopů či rentgenovým zářením) je vybuzeno charakteristické rentgenové záření vzorku, které je analyzováno na základě energie nebo vlnové délky. Jinak řečeno, elektronová mikroanalýza je zdokonalená metoda rentgenfluorescence. Rentgenová fluorescenční analýza se nejčastěji používá pro analýzu hlavních a stopových prvků pevných materiálů. Vzorek je třeba utřít na analytickou jemnost. Poté se z něj připraví lisované tablety (pelety) nabo stavené destičky, které se analyzují. Výhodou metody je relativní rychlost a široká škála stanovovaných prvků. Nevýhodou je vysoká cena přístrojů a vyšší meze stanovitelnosti u stopových prvků.

další »»